Sourcemètre Keithley série 2600B, 4 voie(s), 100 → 240 V c.a.

Le 2606B System SourceMeter Lunité de source et de mesure (SMU) 2606B System SourceMeter offre quatre canaux de SMU 20 W dans un châssis à format de hauteur 1U. Fabriqué avec la technologie de SMU de troisième génération de Keithley, le 2606B offre les capacités combinées dune alimentation de précision, dune vraie source de courant, dun multimètre numérique 6 digits, dun générateur de forme donde arbitraire et dun générateur dimpulsions, le tout dans un seul instrument fortement intégré. Le résultat est une solution puissante qui augmente la productivité de manière significative pour les tests de qualification et de production automatisés exigeants pour les dispositifs optoélectroniques tels que les diodes laser/VCSEL utilisées dans la détection 3D, les télécommunications, et les LED utilisées dans les produits grand public et lautomobile, ainsi que des dispositifs intégrés tels que les dispositifs à CI analogiques, ASIC et SoC. Quand un nombre élevé de canaux SMU est nécessaire, plusieurs unités 2606B peuvent être empilées les unes sur les autres sans nécessiter despace thermique entre les unités. Le logiciel Web intégré permet de communiquer avec le 2606B à partir de nimporte quel ordinateur et de nimporte où dans le monde. Pour les applications de système automatisées, la technologie Test Script Processor (TSP®) du 2606B exécute des programmes de test complets de lintérieur de linstrument pour les meilleurs résultats du secteur. Dans les applications multi-canaux plus grandes, la technologie TSP-Link® de Keithley fonctionne avec la technologie TSP pour permettre des tests parallèles "SMU par broche" haute vitesse. Chaque SMU 2606B dispose dun code compatible avec le SMU 2602B System SourceMeter de Keithley lorsque vous utilisez les nouvelles plages. Caractéristiques et avantages : • SMU quatre canaux dans un unique châssis plein rack 1U • Empilable : aucun espace 1U nécessaire entre les unités • Les instruments de génération et de mesure de tension/courant fortement intégrés offrent les meilleures performances avec une résolution de 6 digits • Enveloppes dalimentation 20 V @ 1 A et 6 V @ 3 A, 20 W • Précision de base de 0,015 % V c.c. • Jusquà 28 bits dE/S numériques à drain ouvert • Résultats corrélés au SMU 2602B System SourceMeter • La technologie TSP intègre des programmes de test complets à lintérieur de linstrument pour un rendement de niveau système haut de gamme • Technologie dextension de lien TSP pour test parallèle multi-canaux sans ordinateur central • LAN sur panneau avant (LXI-C), protocole USB 2.0 TMC488 et interfaces dE/S numériques • Le logiciel Web intégré permet de commander depuis un navigateur, à partir de nimporte quel ordinateur et de nimporte où dans le monde Applications typiques : Test I-V fonctionnel et caractérisation dune large gamme de dispositifs, y compris : • Dispositifs optoélectroniques - Laser à émission de surface de cavité verticale (VCSELs), diodes laser (utilisées sur les systèmes de détection 3D) - Diode électroluminescentes (LED) à haute luminosité (HBLED) - Ecrans • Circuits intégrés à petite échelle (SSI) et à grande échelle (LSI) - Circuits intégrés analogiques - Circuits intégrés de fréquence radio (RFIC) - Circuits intégrés pour application spécifique (ASIC) - Système sur circuit (SoC) • Composants discrets et passifs - Capteurs deux fils, têtes dentraînement de disque, varistances à oxyde métallique (MOV), diodes, diodes Zener, capteurs, condensateurs, thermistances - Transistors à jonction bipolaire (BJTs) trois fils à petits signaux, transistors à effet de champ (FET), et bien plus • Circuits intégrés simples : opto, drivers, commutateurs, capteurs, convertisseurs et régulateurs